ترجمه و آنالیز مقاله ارشد تولیدآزماینده شبه فراگیر دو الگویه با استفاده ازآكومولاتور(APET)

ترجمه و آنالیز مقاله ارشد تولیدآزماینده شبه فراگیر دو الگویه با استفاده ازآكومولاتور(APET)

تولیدآزماینده شبه فراگیر دو الگویه با استفاده ازآكومولاتور(APET)

چکیده

در این مقاله یك طرحٍ جدید برای تولید آزماینده شبه فراگیر با دو الگوی آزمایش برای آزمودن ماژول های پیچیده ارائه کردیم. دراین طرح از یک آکومولاتور و یک جمع کننده مکمل یک، برای تولید الگوی آزمایش، که زمان تولید آن، برابر با نظریه مینیمم مقدار است ،استفاده می‌کنیم. از آنجایی که آکومولاتور به صورت رایج در مدارات پر سرعت پردازش سیگنال VLSI (Very Large Scale Integration) وجود دارد، از این طرح برای آزمایش های شبه فراگیر مداراتی که دارای تاخیر شکست مدار یا خطای Stuck-open بهره می‌گیریم.

در مقایسه این طرح با طرح های قبلی استفاده شده از آزماینده شبه فراگیر به این نتیجه رسیدیم که آزماینده شبه فراگیر با دو الگوی آزمایش دارای سربار سخت افزاری کمتری است و همچنین به دلیل ساده تر بودن سخت افزار انباره در تولید الگوهای آزمایش با طول زیاد می‌تواند پارامتر های زمانبندی مدار را نیز کاهش دهد.

واژه های كلیدی

Built-in self test، آزماینده دو الگویه، برنامه آزماینده با آکومولاتور، تاخیر تست شکست .

آنالیز مقاله:بررسی طرح های BIST برای نهفته سازی الگوی آزمایش دردنباله تولید شده توسط انبار

A Low-Cost BIST Scheme for Test Vector mbedding in Accumulator-Generated Sequences

١: این مقاله:

در این مقاله به بررسی استفاده از مولدهای الگوی BIST برای تولید الگوهای آزمایش در ورودی های مدار تحت آزمایش میپردازیم .تاثیر مولد الگوی BIST با سربار سخت افزاری تحمیل شده به مدار ، طول الگوی آزمایش به کاررفته و تاثیر بررسی پارامترهای زمان بندی مدار از دیگر موارد بررسی شده است. تراشه های VLSI رایج معمولا شامل انباره هستند ،در نتیجه استفاده از انبارها برای تولید الگوهای آزمایش و بررسی پاسخ مدار تحت آزمایش هیچ تاثیری بر روی پارامتر های زمان بندی مدار ایجاد نمیکند و سربار کاهش مییابد. این مقاله یک روش جدید برای مساله نهفته سازی بردار آزمون در دنباله های تولید شده توسط انباره ای شامل جمع کننده های مکمل یک ارائه شده است

آنالیز مقاله: تولید آزماینده شبه فراگیر دو الگویه با استفاده ازآكومولاتور

Accumulator-based pseudo-exhaustive two-pattern generation

2: این مقاله:

در این مقاله یك طرحٍ برای تولید آزماینده شبه فراگیر با دو الگوی آزمایش برای آزمودن ماژول های پیچیده ارائه شده که از یک آکومولاتور و یک جمع کننده مکمل یک، برای تولید الگوی آزمایش، که زمان تولید آن، برابر با نظریه مینیمم مقدار است ،استفاده می کند. . از آنجایی که تراشه های VLSI رایج معمولا شامل انباره هستند در نتیجه برای تست مدار نیاز به افزودن سخت افزار اضافی نیست.در این مقاله برای آزمودن مدار از الگوهای شبه فراگیر استفاده شده که میتوانند تمام خطاهای موجود در مدار تحت آزمایش را با کمترین تعداد گام تشخیص دهند.